Übersicht
The EXFO-Burleigh WA-1150 uses a scanning Michelson interferometer to measure optical wavelengths. A built-in reference supports continuous calibration, while remote interfaces allow integration into laser and DWDM component tests.
Technische Daten
Wichtige technische Daten
- Measurement principle
- Scanning Michelson interferometer
- Wavelength reference
- Built-in reference
- Schnittstellen
- RS-232 and GPIB
- Application
- Laser and DWDM component characterization
Vertrieb und Service
- Garantie
- 6 Monate Garantie
- Kalibrierungsstatus
- Kalibrierzertifikat oder Prüfbericht verfügbar (wie in Ihrem Angebot angegeben)
Dokumente
Warum sollten Sie bei uns arbeiten?
Wir klären die Einzelheiten mit Ihnen ab
Von den technischen Daten bis hin zum Zubehör – wir helfen Ihnen dabei, den Überblick zu behalten, was alles im Lieferumfang enthalten ist.
Wissen Sie, was Sie kaufen
Wir geben unser Wissen über die Erkrankung weiter und stellen alle verfügbaren Unterlagen zur Verfügung.
Sagen Sie uns, was Sie brauchen
Haben Sie spezielle Anforderungen oder einen bestimmten Termin? Wir konzentrieren uns auf das, was Ihnen wichtig ist.
Man muss nicht von vorne anfangen
Wir speichern Ihre Fragen und bisherigen Diskussionen, sodass wir problemlos dort weitermachen können, wo wir aufgehört haben.
A closer look at WA-1150
Fragen Sie nach diesem Produkt
Teilen Sie uns Ihre Anforderungen mit, und wir werden den aktuellen Produktkontext prüfen.
Vielen Dank
Ihre Anfrage wurde erfasst. Bitte bewahren Sie die hier angegebene Bestätigungsnummer auf.
Ähnliche Produkte
