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製品概要

概要

The EXFO-Burleigh WA-1150 uses a scanning Michelson interferometer to measure optical wavelengths. A built-in reference supports continuous calibration, while remote interfaces allow integration into laser and DWDM component tests.

技術情報

仕様

主な仕様

Measurement principle
Scanning Michelson interferometer
Wavelength reference
Built-in reference
インターフェース
RS-232 and GPIB
Application
Laser and DWDM component characterization

販売・サービス

保証
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A closer look at WA-1150

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