Обзор
The EXFO-Burleigh WA-1150 uses a scanning Michelson interferometer to measure optical wavelengths. A built-in reference supports continuous calibration, while remote interfaces allow integration into laser and DWDM component tests.
Технические характеристики
Основные технические характеристики
- Measurement principle
- Scanning Michelson interferometer
- Wavelength reference
- Built-in reference
- Интерфейсы
- RS-232 and GPIB
- Application
- Laser and DWDM component characterization
Продажи и обслуживание
- Гарантия
- 6-месячная гарантия
- Состояние калибровки
- Имеется сертификат калибровки или протокол испытаний (как указано в вашем коммерческом предложении)
Документы
Почему стоит работать с нами?
Мы уточняем детали у вас
От технических характеристик до аксессуаров — мы поможем вам разобраться в том, что входит в комплект.
Знайте, что вы покупаете
Мы делимся тем, что нам известно об этом заболевании, а также предоставляем все имеющиеся данные.
Расскажите нам, что вам нужно
У вас есть особые требования или сроки? Мы сосредоточимся на том, что важно именно для вас.
Не нужно начинать сначала
Мы сохраняем ваши вопросы и предыдущие обсуждения, поэтому легко продолжить с того места, на котором мы остановились.
A closer look at WA-1150
Запросить информацию об этом товаре
Сообщите нам свои требования, и мы проанализируем текущую ситуацию с продуктом.
Спасибо
Ваш запрос зарегистрирован. Сохраните указанный здесь номер подтверждения.
Сопутствующие товары
